CHY-115 涂层测厚仪/膜厚计 CHY115
產品特色:
■CE 認證合格
■可偵測導磁、非導磁材料
■資料儲存支援 255 筆
■可設定 Hi/Lo 警報蜂鳴的讀值範圍
■選擇平均值、最大值、最小值及最大值-最小值
■常用厚度量測點可使用快速一點校正
■兩點校正正常操作
■背光顯示
■使用者可選擇 μm/mils
■自動關機功能
CHY-115 涂层测厚仪/膜厚计 CHY115
一般規格:
顯示:31/2 位數字液晶顯示,最大 1999 讀值。
電池電壓不足顯示:當電池電壓低於操作電壓時,
" "顯示。
操作環境:0°C至40°C,相對濕度<90%R.H.。
避免有強度磁場的環境。
儲存環境:-20°C至60°C,0 至 80%R.H. (電池移除後)。
精確度測試環境:23°C±5°C,相對濕度<75%R.H.。
自動關機:15 秒。
尺寸:148mm(高)x105mm(寬)x42mm(厚)。
CHY-115 涂层测厚仪/膜厚计 CHY115
技術資料:
範圍:0 至 40.0mils (0 至 1000μm)
解析度:0.1mils/1μm
回應時間:1 秒
精確度:
±(4位)在0至7.8mils
±(10 位)在 0 至 199μm
±(3%+4 位)在 7.9mils 至 40mils
±(3%+10 位)在 200μm 至 1000μm